Search

Scanning Electron Microscopy System (Se) Equipped With Fib, 3D-Ebsd, 3D-Eds Detectors And Spectrometer For Simultaneous Measuring Spectra For Various Energies, For The Purpose Of Analyzing Light Metal Elements Including Lithium (Li)

Առաջարկների հրավեր

Ընդհանուր տեղեկություններ

   Սեպտ 1, 2025
   Slovak
   Այլ
   հրատարակված: Սեպտ 1, 2025

Բնօրինակ տեքստ

Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)




Ústav materiálového výskumu SAV



Skenovacie elektrónové mikroskopy
Košický kraj

01.09.2025

















EVO




Späť...
Անդամակցության տարբերակներ

Basic

Full

Corporate

$550/year

$1000/year

Price on request

Buy Buy Դիմեք մեզ
Նշեք, որ այս ծանուցումը միայն ձեր ուշադրության համար է:
Մենք գործադրում ենք բոլոր ջանքերը մեր կայքում ամենաճշգրիտ և թարմ տեղեկատվություն ունենալու համար, սակայն մենք չենք կարող երաշխավորել այդ տեղեկատվության անթերի լինելը:
Տեղեկացրեք մեզ, եթե այս ծանուցման թարմացման/ուղղումների վերաբերյալ դուք ունեք առաջարկներ: