Scanning Electron Microscopy System (Se) Equipped With Fib, 3D-Ebsd, 3D-Eds Detectors And Spectrometer For Simultaneous Measuring Spectra For Various Energies, For The Purpose Of Analyzing Light Metal Elements Including Lithium (Li) (EXPIRED)
Առաջարկների հրավեր
Մենք գործադրում ենք բոլոր ջանքերը մեր կայքում ամենաճշգրիտ և թարմ տեղեկատվություն ունենալու համար, սակայն մենք չենք կարող երաշխավորել այդ տեղեկատվության անթերի լինելը:
Տեղեկացրեք մեզ, եթե այս ծանուցման թարմացման/ուղղումների վերաբերյալ դուք ունեք առաջարկներ:
